光路調(diào)節(jié)的小技巧

更新時間：2021-08-25瀏覽：1739次

IRA超短脈沖測量儀（擴(kuò)展掃描范圍）是專門為測量超快放大器和振蕩器產(chǎn)生的超快輻射脈沖寬度和近對比度而開發(fā)的。還有一種特殊的IRA系統(tǒng)模型，適用于中紅外激光源。IRA包括光學(xué)機械組件和電子設(shè)備與USB接口。系統(tǒng)易于操作，并包括一套完整的數(shù)據(jù)收集和分析用戶友好的軟件工具。逼近Gaussian和Sech2線性的也可以。光學(xué)機械組件由參考脈沖的額外延遲光學(xué)箱和機械套件組成。

1) 移除XPW晶體，使用入射光闌和廠家提供的輔助小孔進(jìn)行光路的對準(zhǔn)。驗證是否對準(zhǔn)的方法是看光譜儀上的強度是否*。注意：廠家提供的小孔背面貼有四分之一波片，因此需要旋轉(zhuǎn)波片使得初始強度合適
2) 移除小孔，此時由于偏振元件的正交性，光譜儀上應(yīng)該沒有信號，或者非常之微弱。如果有較強的信號，說明偏振片的方向有所旋轉(zhuǎn)，需要校正一下。如果發(fā)現(xiàn)有微弱的信號，并且有光譜干涉的現(xiàn)象，說明雙折射片的角度不正確，需要旋轉(zhuǎn)一下，祛除干涉條紋。
3) 放入XPW晶體，此時光譜儀上應(yīng)該有一個相對光滑的光譜出現(xiàn)。當(dāng)然，這是建立在脈沖比較優(yōu)化的前提下。如果信號較弱，需要調(diào)節(jié)一下激光系統(tǒng)中的脈沖壓縮器直到獲得*的光譜強度信號和最寬的光譜寬度。
4) 最后一步是利用雙折射片產(chǎn)生待測信號，適當(dāng)旋轉(zhuǎn)雙折射片的角度，產(chǎn)生一個調(diào)制深度適中（筆者的經(jīng)驗大約在30%）的干涉圖樣。
5) 此時，Wizzler界面上應(yīng)該會給出一個詳細(xì)的脈沖寬度數(shù)值和相位信息。

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